1.
Matus T, Kaulino A, Urquieta A, Cortez-Monroy F, Mariñez C. Lógicas de auto observación de la falla para una innovación efectiva. MAD [Internet]. 27 de agosto de 2018 [citado 19 de agosto de 2022];(38):1-21. Disponible en: https://revistamad.uchile.cl/index.php/RMAD/article/view/51026